sim卡座一直堅持能適應社會發(fā)展，能維持的就是好的進步表現(xiàn)，所以能順利進行更好合理的完成形式，也是大家一直堅持的那種。所以在不斷發(fā)展進步中，也能保持一個好的基本要求和一些好的技術(shù)，也有大家一直堅持的那種。

sim卡座的種類
1.普通sim卡座，我們稱之為，多為自彈式，一般適合在一些大型智能設備使用。
　
　　2.MICROsim卡座是一種中型卡座，分為自彈性卡座和翻蓋卡座(帶不帶檢測腳)兩種。自彈性卡座更適合外部插卡，其優(yōu)點是插卡更方便使用，而翻蓋卡座更適合內(nèi)部產(chǎn)品，其優(yōu)點是不會因振動或沖擊而脫離接觸。
　　3.NANO sim是目前所有芯片卡中小的卡座，分為自彈性型、首蓋型和抽屜式。自彈性型的重量大，和自彈性型一樣，用于外插卡。優(yōu)點是插卡/取卡更方便。掀蓋式和拉出式都適合內(nèi)部使用。區(qū)別在于掀蓋式為上插卡，周邊空間緊湊的產(chǎn)品，拉出式為側(cè)面

SIM卡座關(guān)鍵由兩一部分構(gòu)成，部分是塑膠絕緣層機殼，第二一部分是金屬材料電導體（觸碰件、腳位）。因為市場上愈來愈多的生產(chǎn)廠家添加到卡坐射頻連接器崗位的團隊中，一部分生產(chǎn)廠家以便可以在價錢上獲得優(yōu)點，因而在材料上便會大作文章，例如用鐵來替代銅做為電導體，期間品質(zhì)存有著的安全隱患。

好多個基礎的SIM卡插口端(便是與電源電路相互連接的接線端子排)是卡數(shù)字時鐘(SIMCLK)、卡校準(SIMRST)、卡開關(guān)電源(SIMVCC)、卡數(shù)據(jù)信息(SIMI/O或SIMDAT)、程序編寫端(SIMVPP)、地(SIMGND).SIM卡數(shù)字時鐘是3.25MHz,I/O端是SIM卡的數(shù)據(jù)信息I/O端口號。SIM卡有3V和9V二種開關(guān)電源，一般所應用的手機上SIM卡開關(guān)電源是9V。因為手機上的SIM卡座引|腳全是統(tǒng)-要求的，要是尋找SIM卡接地端，別的弓|腳就可以推斷出來，而在電路板上用眼睛就可以看出SIM卡接地端(地一塊銅泊)，自然還可以應用在路電阻器法開展測量分辨。

sim卡座的使用壽命長，主要用于sim卡的存放
　　一、卡與sim卡座不一致。退卡不足或不能退卡，反復操作后正常使用，或者更換其他卡正常。一般是卡的推進位置有0.2mm的容量差，卡的尺寸大于容量差時，滑塊不能按有效路徑運行，檢查針不能被彈片導入下一個槽。
　　二、鎖卡退卡功能無效。無法鎖定卡和卡，無操作反應?？ㄗＪ降慕麉^(qū)被擠壓或接地金屬部件變形。在這種情況下，有必要處理異常原因，更換sim卡座。
　　三、摩擦力過大，鎖定功能異常。這種情況引起的現(xiàn)象是焊錫浮高卡住sim卡座，焊盤地面有突起(異物)引起的壓力卡的引腳被推到后面卷起，檢測出壓力卡的鐵殼變形壓力卡的座位上部有零件擠壓殼變形。
　　異常對應的原因是，焊接時錫膏過高溫時流動堆積的焊接板上有起泡和異物，沒有按正確的方向插入卡，在試驗卡的時候檢測引腳上翹曲過高的推進卡的時候，外部被擠壓，有異物(不能兼容存儲卡)插入。
　　四、不讀卡或無法識別卡。插入卡片后，與卡片不通，卡片內(nèi)容無法讀取。使用數(shù)據(jù)設備測試腳和基板的導向位置，插入卡片后，金手指無法有效地連接信號引腳，引腳焊板出現(xiàn)虛焊不良。

表面質(zhì)量的影響因素，應注意以下幾點:
　　1.如果產(chǎn)品對耐腐蝕性要求較高，sim卡座表面粗糙度應適當降低。
　　2.為了滿足sim卡座完工后的表面粗糙度的要求，電鍍前sim卡座的表面粗糙度應至少達到圖紙要求的一半。
　　3.當表面質(zhì)量差影響電鍍層質(zhì)量時，電鍍前應采取有效措施消除。