您可以為所有的蔡司Xradia Versa 儀器選配原位接口套件，包括機械集成套件、堅固耐用的布線導槽和其它設施（饋入裝置），以及基于測試規(guī)程的軟件，它能夠簡化蔡司“定位- 和- 掃描”（Scout-and-Scan）用戶界面中的操作。在蔡司Xradia Versa 上體驗原位裝置高水平的穩(wěn)定性、靈活性和集成控制，得益于其光學架構設計，在變化的環(huán)境條件下不會犧牲分辨率。

Dragonfly Pro：可視化和定量分析的強
大工具Dragonfly Pro 是Object Research SystemORS）公司研發(fā)的一款3D 可視化與分析軟件，蔡司使用該軟件處理掃描電子顯微鏡、雙束離子束電子顯微鏡和X射線顯微鏡的數(shù)據(jù)。Dragonfly Pro 運用可視化技術和的立體渲染，能夠高清地探索集的細節(jié)信息和特性?？梢栽谕还ぷ髡緝扔涗浂喾N數(shù)據(jù)，并借助擴展的圖像處理功能輕松操作2D 和3D 數(shù)據(jù)。

跨領域融合創(chuàng)新
與掃描探針技術結合：實現(xiàn)場發(fā)射-原子力聯(lián)用成像
低溫場發(fā)射顯微鏡：4K環(huán)境下研究量子限域效應
太空應用：ESA開發(fā)微型場發(fā)射顯微鏡用于空間站材料失效分析

研究方向
原位表征技術：集成氣體注入系統(tǒng)實現(xiàn)催化反應實時觀測（如Hiden Analytical的FEM-Reactor附件）
超快場發(fā)射：飛秒激光激發(fā)下的瞬態(tài)場發(fā)射動力學研究
機器學習輔助分析：采用卷積神經網絡自動識別表面缺陷（識別準確率達92%）

成像原理
電子從針尖表面不同晶面發(fā)射時，由于功函數(shù)差異導致發(fā)射電流變化。這些電子經加速后轟擊熒光屏，形成與表面原子排列對應的明暗圖像。例如，鎢（110）晶面因功函數(shù)較低呈現(xiàn)亮斑，而（111）晶面顯示暗區(qū)。

場致電子發(fā)射的物理機制
當金屬表面施加高強度電場（通常>10^7 V/cm）時，量子隧穿效應導致電子穿過表面勢壘向外發(fā)射。該現(xiàn)象可用Fowler-Nordheim方程描述：
其中J為電流密度，E為電場強度，φ為功函數(shù)，β為場增強因子。場發(fā)射電流對曲率半徑極為敏感，納米級針尖可產生局部場增強效應。