礦石光譜儀是一種用于分析礦石成分和結(jié)構(gòu)的儀器。它利用光的特性來測量礦石樣品在不同波長下的吸收、反射和透射情況，從而推斷出礦石的組成和特性。

全新設(shè)計的XTEST分析軟件
軟件內(nèi)核包括基本參數(shù)法（FP），經(jīng)驗系數(shù)法（EC）,可輕松分析各類樣品。 光譜處理參數(shù)包括用于定義背景連續(xù)性，堆積峰和峰總和，平滑度以及測量到的峰背景光譜的數(shù)量 對吸收以及厚膜和薄膜二次熒光的完全校正，即所有基質(zhì)效應(yīng)，增強和吸收。
譜顯示：峰定性，KLM標記，譜重疊比較，可同時顯示多個光譜圖 可以通過積分峰的凈面積或使用測得的參考光峰響應(yīng)，將光峰強度建模為高斯函數(shù)。 可以使用純基本參數(shù)方法，具有分散比的基本參數(shù)（對于包含大量低Z材料的樣品）或通過簡單的小二乘擬合進行定量分析。 基本參數(shù)分析可以基于單個多元素標準，多個標準或沒有標準的樣品。

應(yīng)用領(lǐng)域
礦產(chǎn)勘探：幫助勘探人員在野外快速檢測和識別礦石樣品，確定礦石的類型和品位，指導(dǎo)礦產(chǎn)資源的開發(fā)和利用。
礦山開發(fā)：在礦山開采過程中，可用于快速確定礦石的礦質(zhì)、含量和礦石類型，為礦石的選礦和處理流程提供指導(dǎo)。
環(huán)境監(jiān)測：用于實時監(jiān)測礦石尾砂等廢棄物的成分和污染情況，為環(huán)境保護和資源回收提供依據(jù)。
質(zhì)量控制：在礦石加工過程中，對原材料和成品進行質(zhì)量控制，確保產(chǎn)品符合要求。

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