礦石光譜儀是一種用于分析礦石成分和結(jié)構(gòu)的儀器。它利用光的特性來測量礦石樣品在不同波長下的吸收、反射和透射情況，從而推斷出礦石的組成和特性。
分析性能，使其可以輕松完成對以下礦種的測試： 鐵礦(磁鐵礦、赤鐵礦、鈦鐵礦、菱鐵礦等) 銅礦(黃銅礦、赤銅礦、孔雀石等) 鉻礦(鉻鐵尖晶石、鉻鐵礦、鉻鉍礦等) 鉬礦(輝鉬礦、銅鉬礦、鎢鉬礦等) 鎢礦(白鎢礦、黑鎢礦、錫鎢礦等) 鉭礦(鉭鐵礦、鈮鐵礦、燒綠石等) 鉛鋅礦(方鉛礦、閃鋅礦、白鉛礦等) 鎳礦(紅土鎳礦、硫化銅鎳礦等) 鋁土礦 其它礦類
產(chǎn)品特點
1.小型化、、高速度、易操作，高靈敏度、分析
2.可同時分析40種元素
3.采用多準直器多濾光片和扣背景技術(shù)
4. Peltier電制冷 FAST SDD硅漂移檢測器提供出色的短期重復(fù)性和長期再現(xiàn)性以及出色的元素峰分辨率
5.記數(shù)數(shù)字多道電路設(shè)計，雙真空抽速機構(gòu)，真空度自動穩(wěn)定系統(tǒng)
6.標配基本參數(shù)法軟件，多任務(wù)，多窗口操作
7.薄膜濾光片技術(shù)，有效提高輕元素檢出限
全新設(shè)計的XTEST分析軟件
軟件內(nèi)核包括基本參數(shù)法（FP），經(jīng)驗系數(shù)法（EC）,可輕松分析各類樣品。 光譜處理參數(shù)包括用于定義背景連續(xù)性，堆積峰和峰總和，平滑度以及測量到的峰背景光譜的數(shù)量 對吸收以及厚膜和薄膜二次熒光的完全校正，即所有基質(zhì)效應(yīng)，增強和吸收。
譜顯示：峰定性，KLM標記，譜重疊比較，可同時顯示多個光譜圖 可以通過積分峰的凈面積或使用測得的參考光峰響應(yīng)，將光峰強度建模為高斯函數(shù)。 可以使用純基本參數(shù)方法，具有分散比的基本參數(shù)（對于包含大量低Z材料的樣品）或通過簡單的小二乘擬合進行定量分析。 基本參數(shù)分析可以基于單個多元素標準，多個標準或沒有標準的樣品。
礦石光譜分析儀市場前景廣闊。礦石是重要的資源，對于許多行業(yè)和國家的經(jīng)濟發(fā)展至關(guān)重要。光譜分析儀是一種的儀器，可以用于礦石的化學(xué)成分和結(jié)構(gòu)分析，以及礦石質(zhì)量的評估。
鐵精粉光譜儀通常采用光學(xué)原理，包括可見光、紅外光和紫外光等波長范圍。它通過將樣品暴露在特定波長的光下，測量樣品對光的吸收、散射或發(fā)射等特性，然后根據(jù)這些特性獲得樣品的光譜信息。利用鐵精粉光譜儀，可以對鐵精粉樣品的化學(xué)成分、晶體結(jié)構(gòu)、雜質(zhì)含量和物理性。
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