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董和fib

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  • 成都第三方FIB聚焦離子束檢測(cè)機(jī)構(gòu)-優(yōu)爾鴻信
    成都第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu) 優(yōu)爾鴻信,多年從事電子產(chǎn)品及半導(dǎo)體檢測(cè)服務(wù),機(jī)構(gòu)的電子元件檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室配備有FIB聚焦離子束、掃描電鏡、工業(yè)CT、超聲波C-SAM等設(shè)備,可提供電子產(chǎn)品、電子元器件、半導(dǎo)..
    09月29日
  • 成都半導(dǎo)體FIB測(cè)試機(jī)構(gòu)-聚焦離子束設(shè)備-優(yōu)爾鴻信
    成都FIB測(cè)試機(jī)構(gòu) 優(yōu)爾鴻信,多年從事電子產(chǎn)品及半導(dǎo)體檢測(cè)服務(wù),機(jī)構(gòu)的電子元件檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室配備有FIB聚焦離子束、掃描電鏡、工業(yè)CT、超聲波C-SAM等設(shè)備,可提供電子產(chǎn)品、電子元器件、半導(dǎo)體..
    09月26日
  • 成都半導(dǎo)體FIB測(cè)試機(jī)構(gòu)-優(yōu)爾鴻信
    成都半導(dǎo)體測(cè)試機(jī)構(gòu) 優(yōu)爾鴻信,多年從事電子產(chǎn)品及半導(dǎo)體檢測(cè)服務(wù),機(jī)構(gòu)的電子元件檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室配備有FIB聚焦離子束、掃描電鏡、工業(yè)CT、超聲波C-SAM等設(shè)備,可提供電子產(chǎn)品、電子元器件、半導(dǎo)..
    09月24日
  • FIB聚焦離子束切割、電鏡測(cè)量、截面分析
    1.IC芯片電路修改 用FIB對(duì)芯片電路進(jìn)行物理修改可使芯片設(shè)計(jì)者對(duì)芯片問(wèn)題處作針對(duì)性的測(cè)試,以便更快更準(zhǔn)確的驗(yàn)證設(shè)計(jì)方案。 若芯片部份區(qū)域有問(wèn)題,可通過(guò)FIB對(duì)此區(qū)域隔離或改正此區(qū)域功能..
    09月16日
  • 成都FIB測(cè)試機(jī)構(gòu)-優(yōu)爾鴻信
    成都測(cè)試機(jī)構(gòu) 優(yōu)爾鴻信,多年從事PCB板及電子零組件檢測(cè)與失效分析服務(wù),實(shí)驗(yàn)室工程師熟悉PCB板SMT和DHP工藝流程,結(jié)合超聲波C-SAM、3DX-RAY、離子束切割、FIB、掃描電鏡等設(shè)備,可開展PCB板..
    09月12日
  • 成都FIB切割測(cè)試機(jī)構(gòu)-優(yōu)爾鴻信
    成都FIB切割測(cè)試 優(yōu)爾鴻信,多年從事電子產(chǎn)品及半導(dǎo)體檢測(cè)服務(wù),機(jī)構(gòu)的電子元件檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室配備有FIB聚焦離子束、掃描電鏡、工業(yè)CT、超聲波C-SAM等設(shè)備,可提供電子產(chǎn)品、電子元器件、半導(dǎo)體..
    09月12日
  • 廣州可以做晶圓制造工藝分析FIB、TEM的檢測(cè)機(jī)構(gòu)-廣電計(jì)量實(shí)驗(yàn)室
    廣州可以做晶圓制造工藝分析FIB、TEM的檢測(cè)機(jī)構(gòu)-廣電計(jì)量實(shí)驗(yàn)室 廣電計(jì)量的TEM技術(shù)團(tuán)隊(duì),通過(guò)運(yùn)用嫻熟的TEM制樣技術(shù),充分發(fā)揮了機(jī)臺(tái)的性能,在沒(méi)有l(wèi)ayout且工藝信息未知的情況下..
    09月05日
  • 可以給晶圓制造廠提供FIB、TEM分析的檢測(cè)機(jī)構(gòu)-廣電計(jì)量實(shí)驗(yàn)室
    廣電計(jì)量實(shí)驗(yàn)室可以給晶圓制造廠提供FIB、TEM的檢測(cè)機(jī)構(gòu) 什么是半導(dǎo)體材料及工藝分析? 隨著半導(dǎo)體及集成電路制造工藝的不斷改進(jìn),芯片等半導(dǎo)體器件內(nèi)部的結(jié)構(gòu)也越來(lái)越復(fù)雜和精微。半導(dǎo)體..
    09月05日
  • 啟功先生鑒定古董和書畫的心得與經(jīng)驗(yàn)
    上海匡古藝術(shù)品有限公司 15002150053 吳先生 金子般的承諾,鉆石級(jí)的信譽(yù) 2017中國(guó)上海藝術(shù)品展覽會(huì)火熱征集 啟功先生鑒定古董和書畫的心得與經(jīng)驗(yàn) 網(wǎng)易博客: 搜狐博客: 新浪..
    11月23日
  • 半導(dǎo)體用FIB和FIB-SEM系統(tǒng)市場(chǎng)供需趨勢(shì)及發(fā)展策略研究報(bào)告2024年
    與中國(guó)半導(dǎo)體用FIB和FIB-SEM系統(tǒng)市場(chǎng)供需趨勢(shì)及發(fā)展策略研究報(bào)告2024-2030年~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~《撰寫單位》: 智信中科研究網(wǎng) 《報(bào)告價(jià)格》:紙質(zhì)版6500元 電子版680..
    10月03日
  • 賽默飛FIB掃描電鏡產(chǎn)品1
    FIB200電鏡/FIB800聚焦離子束/FEI FIB/FEI PFIB/FEI SEM/FEI 聚焦離子束/FEI 掃描電鏡/FEI掃描電鏡/賽默飛聚焦離子束/掃描電鏡雙束系/電鏡型號(hào):Strata 400/Helios NanoLab 400/400S/450S/600..
    09月29日
  • 具備4nm及以上制程芯片晶圓制造工藝TEM的檢測(cè)機(jī)構(gòu)-廣電計(jì)量
    廣電計(jì)量的TEM技術(shù)團(tuán)隊(duì),通過(guò)運(yùn)用嫻熟的TEM制樣技術(shù),充分發(fā)揮了機(jī)臺(tái)的性能,在沒(méi)有l(wèi)ayout且工藝信息未知的情況下,制備出了的4nm制程芯片的TEM樣品,并完成了關(guān)鍵結(jié)構(gòu)的成分分析與數(shù)據(jù)分析,..
    09月08日
  • FEI/FIB掃描電鏡產(chǎn)品
    FIB200電鏡/FIB200聚焦離子束/FEI FIB/FEI SEM/FEI 聚焦離子束/FEI 掃描電鏡/美國(guó)FEI掃描電鏡/賽默飛聚焦離子束/掃描電鏡雙束系/電鏡型號(hào):Strata 400/Helios NanoLab 400/400S/450S/600i。FI..
    06月10日
  • PPS日本東麗E604-9/FIB江浙瀘出現(xiàn)貨貨源穩(wěn)定
    2019年來(lái)臨了,塑料行業(yè)迎來(lái)了一次大革命,塑料原料一而再再而三的降價(jià),很多的小貿(mào)易公司就這么倒在了這次大革命上, 很多公司也處在岌岌可危的階段,渡過(guò)去,就是一次機(jī)遇,過(guò)不去
    09月07日
  • 電鏡聚焦離子束顯微鏡FIB
    聚焦離子束 FIB(聚焦離子束,ed Ion beam)是將液態(tài)金屬(大多數(shù)FIB都用Ga)離子源產(chǎn)生的離子束經(jīng)過(guò)離子槍加速,聚焦后照射于樣品表面產(chǎn)生二次電子信號(hào)取得電子像.此功能與SEM(掃描電子顯微鏡
    06月08日
  • 南京雙京FIB-300FJ風(fēng)機(jī)智能綜合保護(hù)裝置
    FIB-300FJ風(fēng)機(jī)智能綜合保護(hù)裝置用于礦用雙電源單風(fēng)機(jī)專用開關(guān)的智能綜合保護(hù)裝置,涵蓋380V、660V、1140V電壓等級(jí)、3~200A額定工作電流,全數(shù)字化整定與校準(zhǔn)。具備欠壓|過(guò)壓|過(guò)載|短路|
    03月26日
  • fib塑膠原料檢測(cè),fib塑膠原料檢測(cè)機(jī)構(gòu),檢測(cè)報(bào)告辦理
    fib塑膠原料檢測(cè)報(bào)告去哪辦?fib塑膠原料檢測(cè)機(jī)構(gòu)如何找? 企來(lái)檢是一家fib塑膠原料檢測(cè)機(jī)構(gòu),可以提供fib塑膠原料檢測(cè)報(bào)告辦理服務(wù) fib塑膠原料檢測(cè)介紹 Fib塑膠原料檢測(cè)是對(duì)Fib這類塑膠原..
    10月04日
  • 制程晶圓級(jí)FIB制樣TEM分析,制程晶圓級(jí)FIB制樣TEM分析機(jī)構(gòu),檢測(cè)報(bào)告辦理
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    10月04日
  • DB-FIB雙束聚焦離子束顯微鏡分析,DB-FIB雙束聚焦離子束顯微鏡分析機(jī)構(gòu),CMA報(bào)告
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    10月04日
  • 雙束聚焦離子顯微鏡FIB-SEM測(cè)試,雙束聚焦離子顯微鏡FIB-SEM測(cè)試機(jī)構(gòu),第三方質(zhì)檢報(bào)告
    雙束聚焦離子顯微鏡FIB-SEM測(cè)試報(bào)告去哪辦?雙束聚焦離子顯微鏡FIB-SEM測(cè)試機(jī)構(gòu)如何找? 企來(lái)檢是一家雙束聚焦離子顯微鏡FIB-SEM測(cè)試機(jī)構(gòu),可以提供雙束聚焦離子顯微鏡FIB-SEM測(cè)試報(bào)告辦理服..
    10月04日

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